电光Q开关.jpg)
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| 产品编号 | 750116 |
| 产品型号 | WaveMaster® COMPACT 2 Universal |
| 测量范围 |
光学镜片的波前质量及光学镜片、镜头的表面面形 |
| 测量模式 | 反射式、透射式 |
| 精度指标 |
波前测量精度：<λ/20 (RMS) 波前测量动态范围：2000λ 表面面形测量精度：<0.050 µm (RMS) 表面面形测量重复性：<0.005 µm (RMS) 表面面形动态范围：> 200 µm 最大非球面度：≤7°
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| 传感器类型 | WaveSensor 150 |
| 样品口径 | 透射式：0.5mm...14mm 反射式：4.5mm...14mm |
| 样品焦距 | -30mm…+100mm |
| 曲率半径 |
-50mm...30mm |
| 样品夹持器 | 单孔位，手动调节 |
WaveMaster® COMPACT系列产品可以简单快速的完成对球面或非球面镜片波前质量的检测，并运用泽尼克多项式实时分析波前数据，在生产和研发上都有着广泛应用。WaveMaster® COMPACT2 Universal是专业级的波前测量仪，集成了WaveMaster® COMPACT2和WaveMaster® COMPACT2 Reflex所有功能。
应用范围：
应用范围：
- 各种球面或非球面镜片光学波前面和镜片或镜头的表面面形的检测。
